
SC-EPL EPL Testing Module is an integrated all-in-one testing device that combines dual technologies of EL (Electroluminescence Testing) and PL (Photoluminescence Testing). It can simultaneously realize intrinsic defect detection of materials/devices under non-electrified conditions and electrical performance defect detection under electrified conditions. Its application covers the entire life cycle of photovoltaic products, and is applicable to multiple core fields including university laboratories, industrial manufacturing, and enterprise R&D testing.
電池制造:電池片是光伏組件的核心發(fā)電單元,EPL設(shè)備可覆蓋電池片生產(chǎn)全流程的在線/離線檢測(cè),是電池片分選機(jī)的核心配置
電池組件封閉檢測(cè):組件封裝后,層壓、焊接、接線盒裝配等工序易引入新缺陷,EPL設(shè)備是串焊虛焊檢測(cè)的關(guān)鍵設(shè)備
高校、實(shí)驗(yàn)室研究測(cè)試:在光伏材料和電池技術(shù)研發(fā)中,EPL設(shè)備是性能分析與工藝優(yōu)化的核心測(cè)試工具
可以檢測(cè)摻雜均勻性、邊緣過刻/欠刻缺陷、PN結(jié)異常區(qū)域
通過EPL檢測(cè)鈍化效果(少子壽命提升幅度)、少子缺陷等;
EPL可檢測(cè)柵絲網(wǎng)印刷后電池柵線斷柵、虛印、短路,印刷過程中導(dǎo)致的隱裂等缺陷
通過EPL設(shè)備拍攝的成像,判斷電池片其少子壽命、缺陷分布數(shù)據(jù),結(jié)合EL的電性能缺陷數(shù)據(jù),對(duì)電池片進(jìn)行多維度分級(jí)(如A級(jí)、B級(jí)、降級(jí)片),為組件封裝提供匹配依據(jù),保障組件功率一致性。
針對(duì)封裝過程中出現(xiàn)的“功率偏低、一致性差”等問題,EPL設(shè)備可反向分析電池片來料缺陷、焊接缺陷或?qū)訅喝毕?,定位工藝瓶頸。
電池封裝層壓前檢測(cè):通過EL檢測(cè)電池片隱裂擴(kuò)展、虛焊/假焊、裂片、熱斑前兆,通過EPL檢測(cè)封裝過程中易產(chǎn)生的電池片二次缺陷(如層壓壓力不均導(dǎo)致的晶格損傷);
生產(chǎn)環(huán)節(jié)檢測(cè):結(jié)合EL(通電狀態(tài))和PL(不通電狀態(tài))的雙重?cái)?shù)據(jù),出具串焊缺陷報(bào)告,確保出廠組件無明顯缺陷,符合質(zhì)檢出廠標(biāo)準(zhǔn)。
針對(duì)不同電池工藝技術(shù),通過EPL檢測(cè)串阻類缺陷和少子類缺陷,分析材料本征特性;結(jié)合EL檢測(cè)評(píng)估材料制成器件后的電性能表現(xiàn)。
對(duì)比不同工藝參數(shù)下的電池片EPL檢測(cè)數(shù)據(jù),量化工藝對(duì)缺陷的影響,指導(dǎo)工藝參數(shù)迭代。
全面覆蓋電池片內(nèi)外部缺陷檢測(cè),可精準(zhǔn)識(shí)別隱裂、黑斑、劃傷、臟污、碎角、同心圓、低效率片、雜質(zhì)污染、串焊虛焊等各類瑕疵,檢測(cè)范圍無遺漏
檢測(cè)流程全自動(dòng)化運(yùn)行,節(jié)拍效率優(yōu)異,大幅提升產(chǎn)線通行速度
針對(duì)電池片串阻類缺陷的成像效果優(yōu)于傳統(tǒng)EL成像技術(shù),缺陷識(shí)別精度更具優(yōu)勢(shì)
采用無接觸式檢測(cè)方案,無需探針機(jī)構(gòu)介入,從根源上避免電池片物理損傷,顯著降低碎片率
兼容各類網(wǎng)版工藝電池片,支持自動(dòng)適配切換,無需人工干預(yù),有效降低人工成本與耗材損耗
缺陷與良品數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)功能,可實(shí)時(shí)呈現(xiàn)各類缺陷占比及良品率,便于工作人員快速開展統(tǒng)計(jì)分析
無縫對(duì)接自動(dòng)化產(chǎn)線,支持實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)通信,可及時(shí)反饋產(chǎn)線異常并觸發(fā)報(bào)警、停機(jī)、剔除等聯(lián)動(dòng)指令,為工藝優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐,助力良品率提升
集成自研人工智能檢測(cè)算法,可快速精準(zhǔn)設(shè)定各類缺陷的識(shí)別類型及檢出標(biāo)準(zhǔn),檢測(cè)準(zhǔn)確性與適配性更強(qiáng)
基于Windows平臺(tái)開發(fā)專屬上位機(jī)控制軟件,實(shí)現(xiàn)算法一體化集成,支持一鍵配置參數(shù),操作邏輯簡(jiǎn)潔,降低人員操作門檻
雙向兼容電池生產(chǎn)線與組件生產(chǎn)線,無需額外改造即可接入現(xiàn)有產(chǎn)線
靈活適配在線、離線兩種機(jī)臺(tái)部署模式,滿足不同生產(chǎn)流程需求
全面適配主流高效電池技術(shù),可跟隨技術(shù)迭代實(shí)現(xiàn)快速兼容升級(jí)
采用 RGB 三通道成像方案,生成的彩色圖像可清晰呈現(xiàn)目標(biāo)細(xì)節(jié),大幅提升人工分辨的準(zhǔn)確性與效率
| 參數(shù)名稱 | 技術(shù)指標(biāo) |
|---|---|
| 型號(hào) SC-PLEL-PS | |
| 相機(jī)規(guī)格 | 成像:NIR增強(qiáng)型 分辨率:100萬像素 曝光時(shí)間:10微秒~10秒 可響應(yīng)范圍:400nm~1200nm |
| 紅外像素 | 100萬像素 |
| 鏡頭規(guī)格 | 高清廣角鏡頭,焦距(16mm/25mm/45mm多規(guī)格選配),視場(chǎng)角≥80°,可選配長(zhǎng)焦鏡頭實(shí)現(xiàn)局部放大檢測(cè) |
| 光源規(guī)格 | 半導(dǎo)體激光,主波長(zhǎng)808±5nm |
| 光斑均勻性 | ≥90%(有效檢測(cè)區(qū)域內(nèi)) |
| 曝光周期 | 200us~1000us(根據(jù)檢測(cè)對(duì)象響應(yīng)時(shí)間自定義設(shè)置,最小步長(zhǎng)1ms) |
| 檢測(cè)波長(zhǎng)范圍 | 900nm~1300nm(晶硅專用) |
| 兼容尺寸規(guī)格 | 156mm*156mm~210mm210mm(半片,整片均兼容) |
| 檢測(cè)對(duì)象 | 晶硅電池(PERC、TOPCon、HJT、xBC等);裸片、帶膜片、封裝組電池均可檢測(cè) |
| 可檢測(cè)缺陷類型 | 隱裂、斷柵、碎片、劃傷、虛焊、過刻、黑斑、同心圓、低效率片、雜質(zhì)污染等 |
| 載物臺(tái)尺寸 | 適配自動(dòng)化軌道(按需定制) |
| 控制方式 | 自研上位軟件全自動(dòng)化控制 |
| 檢測(cè)精度 | 可檢測(cè)出裂紋寬度大于50μm |
| 成像精度 | ≥mm/pixel |
| 對(duì)焦模式 | 手動(dòng)對(duì)焦 |
| 硬件支架 | 鋁合金型、鋁合金、金屬鈑金等 |
| 檢測(cè)時(shí)間 | 0.5s~2s(根據(jù)自動(dòng)化機(jī)臺(tái)運(yùn)行速度判斷) |
| 對(duì)焦距離 | 400-650mm |
| 測(cè)試平臺(tái) | windows平臺(tái) |
| 功率 | 500-1000W |
| 電源特性保護(hù) | 逆電流保護(hù),過載保護(hù),漏電保護(hù),靜電保護(hù),過熱保護(hù) |
| 運(yùn)算設(shè)備 | 工控計(jì)算機(jī) |
| 環(huán)境溫度 | 溫度15-50℃,相對(duì)濕度30%-70%(無凝結(jié)) |
| 設(shè)備重量 | 約20kg(以實(shí)物為準(zhǔn)) |
| 外形尺寸 | 1×1×1mm(長(zhǎng)×寬×高,以實(shí)物為準(zhǔn)) |
| 供電 | 單相AC220V±10%,50HZ±1HZ |
| 檢測(cè)類型電池工藝 | EPL成像 | EL成像 | 成像分析 |
|---|---|---|---|
| 偏移 | ![]() | ![]() | 與 EL 成像能力相當(dāng),可精準(zhǔn)捕捉串阻類缺陷,成像效果穩(wěn)定甚至更強(qiáng),能滿足偏移檢測(cè)的核心需求 |
| 斷柵 | ![]() | ![]() | 采用三通道成像技術(shù),斷柵缺陷輪廓清晰、辨識(shí)度更高,檢測(cè)結(jié)果直觀易懂,便于快速判定缺陷情況 |
| 多類型缺陷 | ![]() | ![]() | 無探針遮擋干擾,綠框區(qū)域各類缺陷全覆蓋無遺漏,紅框區(qū)域斷柵缺陷特征突出,多類型缺陷檢測(cè)精準(zhǔn) |
| 輕微斷柵+嚴(yán)重?cái)鄸?/td> | ![]() | ![]() | EPL 對(duì)輕微斷柵顯示更清晰,可檢出 EL 無法識(shí)別的未完全斷路輕微斷柵,同時(shí)清晰呈現(xiàn)嚴(yán)重?cái)鄸湃毕?/td> |
配套設(shè)備推薦:晶硅/鈣鈦礦PL/EL一體機(jī)、光伏電池檢測(cè)
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