引領光伏檢測變革：PL/EL雙模一體機

隨著光伏產業邁向高效化與多樣化，晶硅電池（PERC/TOPCon/HJT/xBC）、鈣鈦礦單節電池以及晶硅-鈣鈦礦疊層電池對檢測技術提出了全新挑戰。傳統檢測設備往往只能單獨實現電致發光（EL）或光致發光（PL）成像，難以在同一區域進行缺陷的交叉驗證與綜合分析。勢創智能憑借深厚的光電檢測技術積累，自主研發推出PLEL一體機 SC-PLEL-PS。作為同時集成EL與PL雙模式發光檢測的一體機，該設備可針對同一電池片區域開展同步對標分析，完整呈現各類缺陷的形態與分布，為光伏技術迭代提供量化數據支撐。

勢創智能晶硅鈣鈦礦PLEL一體機

鈣鈦礦PL檢測：無損評估薄膜均勻性與缺陷態

在鈣鈦礦PL檢測應用中，勢創智能PLEL一體機搭載高穩定半導體激光光源（主波長808±5nm，可選450/915/980nm），光斑均勻性≥90%，功率0.1~2個sun可調。激光激發鈣鈦礦材料產生光致發光信號，通過高靈敏度NIR相機（2500萬像素，響應400-1200nm）采集成像。

通過PL圖像分析，可精準評估：

薄膜均勻性：亮區代表結晶完好，暗斑對應缺陷富集區或界面復合中心

缺陷態密度：發光強度差異反映非輻射復合損失

組分偏析：局部發光異常提示鈣鈦礦組分不均勻

該功能特別適用于鈣鈦礦材料研發階段的工藝優化，以及量產線的來料管控，從源頭排除缺陷，降低后續返工成本。

鈣鈦礦EL檢測：精準識別電極接觸與電流輸運問題

在鈣鈦礦PL方面，勢創智能PLEL一體機配備高精度程控電源（恒流/恒壓雙模式，電壓0~30V±1%，電流0~10A±1%），通過注入電流激發電池電致發光。EL成像能夠清晰識別：

激光劃線偏差：暗線或斷路區域提示劃線精度不足

隱裂與壞點：局部不發光區域反映結構損傷

層間兼容性問題：鈣鈦礦疊層電池中，發光異常提示載流子注入或抽取障礙

電極接觸異常：灰度不均反映電極與傳輸層界面問題

EL與PL雙模結合，可實現EL鎖定電流阻斷區、PL甄別非輻射復合中心的互補分析，完整呈現電池片性能瓶頸。

全面覆蓋：晶硅、鈣鈦礦、疊層全場景

勢創智能PLEL一體機支持三大類檢測對象：

晶硅電池：PERC、TOPCon、HJT、xBC

鈣鈦礦單節及柔性電池

晶硅-鈣鈦礦疊層電池**（裸片/帶膜/封裝）

無論是實驗室研發階段的高精度表征，還是產線量產環節的快速全檢，該設備均可靈活適配。

核心功能優勢

雙模成像·同步分析

EL鎖定隱裂造成的電流阻斷區，PL甄別晶界非輻射復合中心，完整呈現缺陷形態與分布。

自動化控制

智能控制氣缸/電機，自動傳送、位置校準及升降，強化檢測效率與重復性。

多波長光源

808±5nm標配，可選450/915/980nm；光斑均勻性≥90%，功率0.1~2個sun可調。

高分辨率成像

NIR增強相機，最大幀率4.5FPS，成像精度≥0.1mm/pixel，捕捉細微缺陷。

參數定量分析

自研算法解析少子擴散長度、壽命（精度±0.1μs，τ≤10μs），輸出IVoc、Jo、τ、Rs Mapping。

高精度程控電源

恒流/恒壓雙模式，電壓0~30V（±1%），電流0~10A（±1%），滿足不同偏壓需求。

智能分析軟件：從定性到定量

設備配備自研上位機軟件，支持：

圖像處理：多種調節方式及格式保存

數據管理：全自動報表生成與追溯

精準觀測：光標追蹤與局域統計

智能分析：缺陷自動分類，MES對接

生成Mapping圖譜：IVoc、Jo、τ、Rs等

Suns-Voc分析：復合情況研究

核心技術參數一覽

應用案例：多材料成像對比

通過實際測試，勢創智能PLEL一體機在以下場景中表現優異：

晶硅電池PL：評估結晶質量與載流子壽命

鈣鈦礦電池PL：分析薄膜均勻性與缺陷態密度

鈣鈦礦疊層PL：聚焦鈣鈦礦層本征特性與界面匹配

晶硅電池EL：識別電極接觸異常、隱裂、斷柵

鈣鈦礦電池EL：暗斑對應激光劃線偏差、隱裂或壞點

鈣鈦礦疊層EL：評估層間兼容性與電流匹配性

適用場景

高校科研：缺陷機理研究、材料表征

企業研發：高效電池技術迭代

產線質控：工藝波動監控、參數調整

成品分級：全面排查缺陷，規避下游風險

總結

勢創智能PLEL一體機以雙模成像、定量分析、全場景覆蓋為核心優勢，為晶硅、鈣鈦礦及疊層電池提供從原材料到成品、從研發到量產的全生命周期檢測解決方案。在鈣鈦礦PL與鈣鈦礦EL檢測等關鍵應用中，該設備展現出卓越的成像質量與分析能力，是光伏行業邁向高效、高可靠性的重要技術支撐。