在晶硅電池片量產(chǎn)檢測(cè)環(huán)節(jié)，傳統(tǒng)EL（電致發(fā)光）檢測(cè)受探針排布影響，存在局部遮擋、輕微斷柵漏檢等痛點(diǎn)。某頭部光伏制造企業(yè)（應(yīng)要求隱去具體名稱）為提升電池片缺陷檢出率，降低產(chǎn)線誤判成本，率先引入勢(shì)創(chuàng)智能自主研發(fā)的EPL（增強(qiáng)型光致發(fā)光）檢測(cè)模組。EPL技術(shù)融合了光致發(fā)光的高分辨率與電致發(fā)光的電學(xué)特性表征能力，徹底規(guī)避了探針遮擋干擾，實(shí)現(xiàn)對(duì)電池片全域缺陷的無損、無遮擋成像。
勢(shì)創(chuàng)智能技術(shù)團(tuán)隊(duì)針對(duì)客戶產(chǎn)線高速流轉(zhuǎn)需求，對(duì)EPL模組進(jìn)行了光源優(yōu)化與算法適配。通過三通道同步成像技術(shù)，顯著增強(qiáng)斷柵、隱裂、偏移等微弱信號(hào)的對(duì)比度，尤其對(duì)EL難以識(shí)別的“未完全斷路”輕微斷柵，EPL可清晰呈現(xiàn)，幫助工藝人員提前攔截異常電池片。同時(shí)，無探針遮擋的設(shè)計(jì)使得多類型缺陷（如黑芯、虛印、燒結(jié)不良）在一張圖中完整暴露，大幅提升檢測(cè)效率與準(zhǔn)確性。下圖對(duì)比展示了EPL成像與EL成像在偏移、斷柵、多類型缺陷等場(chǎng)景下的實(shí)際效果，充分驗(yàn)證EPL技術(shù)在精密檢測(cè)中的領(lǐng)先性。
| 檢測(cè)類型/電池工藝 | EPL成像 | EL成像 | 成像分析 |
|---|---|---|---|
| 偏移 |  |  | 與 EL 成像能力相當(dāng)，可精準(zhǔn)捕捉串阻類缺陷，成像效果穩(wěn)定甚至更強(qiáng)，能滿足偏移檢測(cè)的核心需求 |
| 斷柵 |  |  | 采用三通道成像技術(shù)，斷柵缺陷輪廓清晰、辨識(shí)度更高，檢測(cè)結(jié)果直觀易懂，便于快速判定缺陷情況 |
| 多類型缺陷 |  |  | 無探針遮擋干擾，綠框區(qū)域各類缺陷全覆蓋無遺漏，紅框區(qū)域斷柵缺陷特征突出，多類型缺陷檢測(cè)精準(zhǔn) |
| 輕微斷柵+嚴(yán)重?cái)鄸?/td> |  |  | EPL 對(duì)輕微斷柵顯示更清晰，可檢出 EL 無法識(shí)別的未完全斷路輕微斷柵，同時(shí)清晰呈現(xiàn)嚴(yán)重?cái)鄸湃毕?/td> |
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